殘余奧氏分析儀比以往歷代殘余應(yīng)力分析儀較快速、精度較高，提供的數(shù)據(jù)較可靠。XstressDR45的檢測(cè)速度和準(zhǔn)確性使殘余應(yīng)力測(cè)量方面大大*出了實(shí)驗(yàn)室范圍，并進(jìn)入了生產(chǎn)線。直觀、簡(jiǎn)捷的界面的，全新支持軟件與全新技術(shù)相結(jié)合，可提供的工作效率。
 

　　殘余奧氏分析儀的主要特點(diǎn)：
 

　　1、可測(cè)奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強(qiáng)度，符合ASTME975-03國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)；
 

　　2、多衍射峰測(cè)量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來(lái)的影響；
 

　　3、使用精密的自動(dòng)反饋控制電路獲得*的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性；
 

　　4、自動(dòng)調(diào)整高電壓與電流輸出脈動(dòng)值；
 

　　5、配備大功率、上等的玻璃(陶瓷)X射線管；
 

　　6、高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器，高分辨率CCD探測(cè)器。
 

　　在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過(guò)程中，對(duì)殘余奧氏體含量的控制非常嚴(yán)格，精確測(cè)量其含量，對(duì)于鋼鐵熱處理過(guò)程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因?yàn)榛瘜W(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和準(zhǔn)確度較低的情況，所以無(wú)法做到工業(yè)生產(chǎn)中對(duì)殘余奧氏體的精確測(cè)量，而X射線衍射法可以測(cè)量低至0.5%的殘余奧氏體含量，故ASTM頒布E975標(biāo)準(zhǔn)方法：X射線法測(cè)量近無(wú)規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的含量，AreXD正是根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā)。